很長(zhǎng)一段時(shí)間以來(lái)，人們使用傳統(tǒng)的接觸式測(cè)頭量測(cè)方法對(duì)工件進(jìn)行量測(cè)，該方法經(jīng)多年實(shí)踐應(yīng)用，技術(shù)比較成熟，應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)豐

富，具有較廣泛的實(shí)踐價(jià)值。

接觸式測(cè)頭自動(dòng)量測(cè)設(shè)備精準(zhǔn)度高，是進(jìn)行幾何量測(cè)的優(yōu)良選擇。尤其在精密測(cè)量領(lǐng)域，該技術(shù)可對(duì)鉆孔圓度等幾何誤差進(jìn)行量

測(cè)。因該接觸式測(cè)量技術(shù)誕生歷史悠久，存在比較客觀，標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)技術(shù)規(guī)范。

本份白皮書(shū)著重介紹了創(chuàng)新的三維光學(xué)掃描量測(cè)系統(tǒng)/技術(shù)（ZEISS OPTOTECHNIK 三維光學(xué)掃描COMET 系列, T-SCAN 系列）與傳統(tǒng)接觸式測(cè)頭量測(cè)系統(tǒng)/技術(shù)之間的區(qū)別。

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